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更新日期：2024-03-17
簡要描述：
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀Napson 4探針測量系統(tǒng)使用了盒式磁帶（*為Jandel的原始類型）。我們還為其他公司的設備提供6針連接器類型和小模塊類型。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀
<探頭頭類型>
Napson 4探針測量系統(tǒng)使用了盒式磁帶（*為Jandel的原始類型）。我們還為其他公司的設備提供6針連接器類型和小模塊類型。
Napson的4探針法電阻/薄層電阻測量儀器使用由Jandel（UK）制造的高精度4探針探頭。
Jandel探頭z適合用于測量需要高精度的半導體和金屬薄膜的電阻和薄層電阻，并且已經經過了多年的高度評估。
*由于使用了V型彈簧，因此觸針壓力始終穩(wěn)定。
*上下均使用珠寶導板來固定探頭，因此具有出色的針間精度和穩(wěn)定性。
*軸和刀頭是一體的，因此對刀頭的損壞很小，并且具有出色的耐用性。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測量儀
根據(jù)材料，表面條件和待測樣品的形狀選擇類型。
<推薦參考示例>
| 目標樣品 | 探頭 （材料/尖duan半徑） | 測針壓力/書本 |
| 硅錠塊 | TC-40u | 200克 |
| 硅片 | TC-40u | 200克 |
| 蝦結構層 | TC-150u | 100克 |
| 薄外延層 | TC-150u，500u | 50克 |
| 薄層如淺擴散 | OS-200u，500u | 50克 |
| 擴散層 | OS-200u，TC-150u | 100克 |
| 離子黑斑 | TC-150u | 50克，100克 |
| 金屬薄膜 | TC-150u，500u | 25g，50g，100g |
| ITO膜 | TC-150u，500u | 25g，50g，100g |
*可以使用上述以外的樣品進行測量（導電）。
*也可以使用其他類型。
*也可根據(jù)要求提供特殊規(guī)格。
（關于產品編號）
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-針
材料：TC;碳化鎢（OS; alloy合金）-
針尖半徑：40μm（可能在25μm至500μm之間）-
針壓力（g /書）：200克（可能10克至250克）-
針間距：1.00毫米（可能0.5毫米至1.59毫米）-針
排列：線性（標準）（可能是正方形）
